本标准规定了半导体集成电路霍尔电路（以下称为器件）电特性测试方法。
本标准适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试。
半导体集成电路 霍尔电路测试方法标准号为GB/T 42838-2023，发布日期：2023-08-06、实施日期：2023-12-01，所属行业分类电子学。
本文网址：https://www.171zz.com/document/285979.html
GB/T 42838-2023
下载需要10积分，会员免费下载。
*本标准 GB/T 42838-2023 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。