本标准规定了半导体集成电路驱动器（以下简称器件）的电特性测试方法的基本原理和测试程序。
本标准适用于74/54系列驱动器、总线驱动器、PIN开关驱动器、达林顿驱动器、时钟驱动器、 LVDS驱动器、MOSFET驱动器和差分驱动器等各种半导体工艺制造的驱动器的电性能测试。其他类 别驱动器的测试参考使用。
半导体集成电路 驱动器测试方法标准号为GB/T 42975-2023，发布日期：2023-09-07、实施日期：2024-01-01，所属行业分类电子学。
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