SJ/T 11706-2018

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*本标准 SJ/T 11706-2018 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。

半导体集成电路现场可编程门阵列测试方法标准号为SJ/T 11706-2018，发布日期：2018-02-09、实施日期：2018-04-01，所属行业分类信息传输、软件和信息技术服务业。