碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法标准号为SJ/T 11503-2015，发布日期：2015-04-30、实施日期：2015-10-01，所属行业分类。
本文网址：https://www.171zz.com/document/147255.html
SJ/T 11503-2015
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*本标准 SJ/T 11503-2015 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。
碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法标准号为SJ/T 11503-2015，发布日期：2015-04-30、实施日期：2015-10-01，所属行业分类。
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