内容简要 本文件规定了工业级高可靠非易失性存储器中的快闪存储器芯片(以下简称芯片)的检测要求、检测方法和检验规则等,暂不涉及ROM。本文件适用于工业级高可靠快闪存储器芯片以及内嵌非易失性…
工业级高可靠集成电路评价 第4部分: 非易失性存储器标准号为T/CIE 070-2020,发布日期:2020-06-08、实施日期:2020-08-15,所属团体名称为中国电子学会。
本文网址:https://www.171zz.com/document/211233.html
内容简要 本文件规定了工业级高可靠非易失性存储器中的快闪存储器芯片(以下简称芯片)的检测要求、检测方法和检验规则等,暂不涉及ROM。本文件适用于工业级高可靠快闪存储器芯片以及内嵌非易失性…
工业级高可靠集成电路评价 第4部分: 非易失性存储器标准号为T/CIE 070-2020,发布日期:2020-06-08、实施日期:2020-08-15,所属团体名称为中国电子学会。
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