本标准规定了介电晶体的低频（10MHz以下）介电系数及介电损耗的试验方法。此标准适用于介电晶体的介电性能的测定。
介电晶体介电性能的试验方法标准号为GB/T 16822-1997，发布日期：1997-05-28、实施日期：1998-02-01，所属行业分类电子学。
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GB/T 16822-1997
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*本标准 GB/T 16822-1997 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。