本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的结构尺寸、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。此标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片（以下简称基片）。
化学试剂 氢氟酸标准号为GB/T 620-1993，发布日期：1993-03-01、实施日期：1993-12-01，所属行业分类化工技术。
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GB/T 620-1993
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*本标准 GB/T 620-1993 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。