半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理标准号为GB/T 12843-1991,发布日期:1991-04-28、实施日期:1991-12-01,所属行业分类电子学。
本文网址:https://www.171zz.com/document/236872.html
半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理标准号为GB/T 12843-1991,发布日期:1991-04-28、实施日期:1991-12-01,所属行业分类电子学。
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