本标准适用于电子元器件结构陶瓷室温下气密性的测试。
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法标准号为GB/T 5594.1-1985，发布日期：1985-11-27、实施日期：1986-12-01，所属行业分类。
本文网址：https://www.171zz.com/document/241349.html
GB/T 5594.1-1985
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*本标准 GB/T 5594.1-1985 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。
本标准适用于电子元器件结构陶瓷室温下气密性的测试。
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法标准号为GB/T 5594.1-1985，发布日期：1985-11-27、实施日期：1986-12-01，所属行业分类。
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