u3000u30001.1 此标准规定了硅和锗单晶体内少数载流子寿命的测量方法。此标准适用于非本征硅和锗单晶体内载流子复合过程中非平衡少数载流子寿命的测量。
硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法标准号为GB/T 1553-2009，发布日期：2009-10-30、实施日期：2010-06-01，所属行业分类电气工程。
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GB/T 1553-2009
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*本标准 GB/T 1553-2009 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。