本部分适用于室温条件下的低气压试验。本试验的目的是用于确定元件、设备或其他产品在低气压条件下贮存、运输或使用的适应性。注：在高温和低气压综合或低温和低气压综合环境下贮存、运输或使用的产品，这种综合环境对于施加于产品上的应力或失效机理的影响是十分重要的，应按下列标准进行试验：—GB/T 2423.25 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AM：低温/低气压综合试验—GB/T 2423.26 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/BM：高温/低气压综合试验
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验M：低气压标准号为GB/T 2423.21-2008，发布日期：2008-12-30、实施日期：2009-10-01，所属行业分类试验。
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