本部分规定了微电子技术用贵金属浆料方阻的测试方法。本部分适用于微电子技术用贵金属浆料方阻的测定。
微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定标准号为GB/T 17473.3-2008，发布日期：2008-03-31、实施日期：2008-09-01，所属行业分类冶金。
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GB/T 17473.3-2008
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*本标准 GB/T 17473.3-2008 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。