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GB/T 22586-2008

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*本标准 GB/T 22586-2008 仅供参考,使用标准请以正式出版的标准版本为准。

本标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法。测试目标是在谐振频率下Rs随温度的变化。此标准适用于表面电阻的测试范围如下:—频率: 8GHz

高温超导薄膜微波表面电阻测试标准号为GB/T 22586-2008,发布日期:2008-12-15、实施日期:2009-05-01,所属行业分类冶金。

GB/T 22586-2008

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