本标准描述了运用直流或低扫场速率磁强计方法对Cu/Nb-Ti多丝复合线磁滞损耗进行测量的相关事宜。此标准所针对的是Cu/Nb-Ti多丝复合导体中磁滞损耗的测量。测量应在4.2K或4.2K附近的温度下针对圆形线进行。直流或低扫场速率磁强计法使用的是超导量子干涉器件（SQUID）磁强计或振动样品磁强计（VSM）。如果测量中发现用不同的（但均校准过的）磁强计所得的结果存在差异，则以VSM在外推至零扫场速率下测量的结果为准。
交流损耗测量 Cu/Nb-Ti 多丝复合线磁滞损耗的磁强计测量法标准号为GB/T 21227-2007，发布日期：2007-11-14、实施日期：2008-05-01，所属行业分类计量学和测量、物理现象。
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