本规范构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系（IECQ）的一部分。本规范是半导体器件（分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路）的总规范。本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序，并给出了下述方面的总原则：——电特性测试方法；——气候和机械试验；——耐久性试验。
半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范标准号为GB/T 4589.1-2006，发布日期：2006-10-10、实施日期：2007-02-01，所属行业分类电子学。
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