本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪（EDS）特性最重要的量值。此标准仅适用于国态电离作用原理的半导体探测器EDS。此标准只规定了与电子探针（EPMA）或扫描电镜（SEM）联用的此类EDS的最低要求，至于如何实现分析则不在此标准的规定范围之内。
半导体探测器X射线能谱仪通则标准号为GB/T 20726-2006，发布日期：2006-12-25、实施日期：2007-08-01，所属行业分类化工技术。
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