本标准适用于位错密度0cm-2～100 0000cm-2的n型和p型锗单晶棒或片的位错密度或其他缺陷的测量．观察面为(111)(100)(113)面。
锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法标准号为GB/T 5252-2006，发布日期：2006-07-18、实施日期：2006-11-01，所属行业分类冶金。
本文网址：https://www.171zz.com/document/255637.html
GB/T 5252-2006
下载需要10积分，会员免费下载。
*本标准 GB/T 5252-2006 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。