本部分适用于光电子器件的测试方法，用于光纤系统或子系统的除外。
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法标准号为GB/T 15651.3-2003，发布日期：2003-11-24、实施日期：2004-08-01，所属行业分类电子学。
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GB/T 15651.3-2003
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*本标准 GB/T 15651.3-2003 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。