本标准规定了太阳能级多晶硅锭、硅片的晶体缺陷密度测定方法，包含方法概要、试剂和材料、仪器和设备、试样制备、测试步骤、数据处理、精密度、干扰因素和报告。
本标准适用于太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度的测定。
太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法标准号为GB/T 37051-2018，发布日期：2018-12-28、实施日期：2019-04-01，所属行业分类电气工程。
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GB/T 37051-2018
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*本标准 GB/T 37051-2018 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。