GB/T 4937的本部分规定了快速温度变化--双液槽法的试验方法。当器件鉴定既可以采用空气-空气温度循环又可以采用快速温度变化--双液槽法试验时,优先采用空气一空气温度循环试验。
本试验也可采用少量循环(5次~10次)的方式来模拟清洗器件的加热液体对器件的影响。
本试验适用于所有的半导体器件。除非在有关规范中另有说明,本试验被认为是破坏性的。
本试验与GB/T 2423.22-2002基本一致,但鉴于半导体器件的特殊要求,采用本部分的条款。
半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法标准号为GB/T 4937.11-2018,发布日期:2018-09-17、实施日期:2019-01-01,所属行业分类电子学。
本文网址:https://www.171zz.com/document/265459.html