GB/T4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。
本试验与GB/T2423.10-2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。
半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动标准号为GB/T 4937.12-2018，发布日期：2018-09-17、实施日期：2019-01-01，所属行业分类电子学。
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GB/T 4937.12-2018
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*本标准 GB/T 4937.12-2018 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。