本标准中，详细规定了用扇形磁场或四极杆式二次离子质谱仪对硅中砷进行深度剖析的方法，以及用触针式轮廓仪或光学干涉仪深度定标的方法。此标准适用于砷原子浓度范围从1×1016atoms/cm3 到2.5×1021atoms/cm3的单晶硅、多晶硅、非晶硅样品，坑深在50nm及以上。
表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法标准号为GB/T 32495-2016，发布日期：2016-02-24、实施日期：2017-01-01，所属行业分类化工技术。
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