本标准适用于石英晶体元件激励电平相关性（DLD）的测量。此标准规定两种试验方法（A和C）和一种基准测量方法（方法B）。方法A以IEC60444-5的π型网络为基础，适用于此标准所覆盖的整个频率范围。基准测量方法B依据IEC 60444-5或IEC 60444-8的π型网络或反射法为基础，适用于此标准所覆盖的整个频率范围。方法C是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。
石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性（DLD）的测量标准号为GB/T 22319.6-2023，发布日期：2023-09-07、实施日期：2024-01-01，所属行业分类电子学。
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