本标准描述了采用显微散射暗场成像法对光学元件表面疵病进行定量检测的检测原理、试验条件、仪器设备、样品、检测步骤、试验数据处理和检测报告。
本标准适用于平板类双面抛光光学元件表面疵病的长度、宽度、挡光面积以及疵病位置检测。
光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法标准号为GB/T 41805-2022，发布日期：2022-10-12、实施日期：2023-05-01，所属行业分类玻璃和陶瓷工业。
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GB/T 41805-2022
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*本标准 GB/T 41805-2022 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。