本标准描述了测量高纯锗晶体基本特征的术语和试验方法。包括电活性杂质净浓度（NA-ND）、深能级杂质中心浓度和晶体学特性。
本标准适用于射线和x射线辐射探测器用高纯锗晶体。此锗单晶的电活性杂质中心的净浓度小于1011cm-3，通常是1010cm-3量级。
本标准中所列测试方法并非法定方法。但在工业中得到了广泛的应用，并为探测器制造商提供了可验证的信息，满足了制造商的需求。
在GB/T 7167-2008和GB/T 11685-2003中给出了完整的组装锗探测器的试验方法。
核仪器仪表 辐射探测器用高纯度锗晶体 基本特性的测量方法标准号为GB/T 40291-2021，发布日期：2021-05-21、实施日期：2021-12-01，所属行业分类能源和热传导工程。
本文网址：https://www.171zz.com/document/291929.html