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DB34/T 3368.1-2019

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*本标准 DB34/T 3368.1-2019 仅供参考,使用标准请以正式出版的标准版本为准。

本部分规定了 X 射线荧光光谱法快速筛选印制电路板中有害物质铅、汞、铬、镉、溴的方法原理、仪器设备、试剂、样品制备、分析步骤、筛选和报告。 本部分适用于印制电路板中有害物质铅、汞、铬、镉、溴的快速筛选,其中所测定的铬、溴是指样品中的总铬、总溴。

印制电路板中有害物质分析方法第 1 部分:铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选 X 射线荧光光谱法标准号为DB34/T 3368.1-2019,发布日期:2019-07-01、实施日期:2019-09-01,所属行业分类制造业。

DB34/T 3368.1-2019

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