内容简要 本标准给出了磁随机存储（MagneticRandomAccessMemory;MRAM）芯片数据保持时间测试方法的术语、测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。本标准适用于磁…
磁随机存储芯片数据保持时间测试方法标准号为T/CIE 134-2022，发布日期：2022-08-10、实施日期：2022-08-10，所属团体名称为中国电子学会。
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T/CIE 134-2022
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*本标准 T/CIE 134-2022 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。