本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的结构尺寸、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。此标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片（以下简称基片）。
薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片标准号为GB/T 14620-1993，发布日期：1993-09-03、实施日期：1993-12-01，所属行业分类电子学。
本文网址：https://www.171zz.com/document/234428.html
GB/T 14620-1993
下载需要10积分，会员免费下载。
*本标准 GB/T 14620-1993 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。