本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器(以下简称器件)电参数测试方法的基本原理。此标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理标准号为GB/T 14115-1993,发布日期:1993-01-21、实施日期:1993-08-01,所属行业分类电子学。
本文网址:https://www.171zz.com/document/234462.html
本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器(以下简称器件)电参数测试方法的基本原理。此标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理标准号为GB/T 14115-1993,发布日期:1993-01-21、实施日期:1993-08-01,所属行业分类电子学。
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