本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环（以下简称器件或模拟锁相环）电参数测试方法的基本原理。
半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理标准号为GB/T 14031-1992，发布日期：1992-12-17、实施日期：1993-08-01，所属行业分类电子学。
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GB/T 14031-1992
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*本标准 GB/T 14031-1992 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。