本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。此标准采用的计算方法是近似函数法。此标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100 nm，微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。
纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法标准号为GB/T 23413-2009，发布日期：2009-04-01、实施日期：2009-12-01，所属行业分类试验。
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GB/T 23413-2009
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*本标准 GB/T 23413-2009 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。