本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10m~×10m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。
薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法标准号为GB/T 20724-2006,发布日期:2006-12-25、实施日期:2007-08-01,所属行业分类化工技术。
本文网址:https://www.171zz.com/document/255184.html
本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10m~×10m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。
薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法标准号为GB/T 20724-2006,发布日期:2006-12-25、实施日期:2007-08-01,所属行业分类化工技术。
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