本标准规定了利用透射电子显微镜（TEM）测量金属薄晶体中位错密度的设备、试样、测定方法、数据处理、测定结果的不确定度和试验报告。
本标准适用于测定晶粒内不高于1X1015m-2的位错密度。也适用于测量几十纳米至几百纳米厚度金属薄晶体试样中单个晶粒内的位错密度。
微束分析 分析电子显微术 金属薄晶体试样中位错密度的测定方法标准号为GB/T 43088-2023，发布日期：2023-09-07、实施日期：2024-04-01，所属行业分类化工技术。
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