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GB/T 17574.10-2003

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*本标准 GB/T 17574.10-2003 仅供参考,使用标准请以正式出版的标准版本为准。

IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程,并在IEC的授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序,以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一,并且与下列标准一起使用。

半导体器件 集成电路 第2-10部分:数字集成电路 集成电路动态读/写存储器空白详细规范标准号为GB/T 17574.10-2003,发布日期:2003-11-24、实施日期:2004-08-01,所属行业分类电子学。

GB/T 17574.10-2003

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