本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。
本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。
半导体集成电路 快闪存储器测试方法标准号为GB/T 36477-2018，发布日期：2018-06-07、实施日期：2019-01-01，所属行业分类电子学。
本文网址：https://www.171zz.com/document/265854.html
GB/T 36477-2018
下载需要10积分，会员免费下载。
*本标准 GB/T 36477-2018 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。