本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉中态晶体二氧化硅含量的XRD测试方法。
本标准适用于电子封装用球形二氧化硅微粉中检测态晶体二氧化硅含量，其他无定形二氧化硅含量的检测也可参照此标准执行。态晶体二氧化硅含量测试范围0.5％以下半定量分析，0.5%～5%定量分析。
电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法标准号为GB/T 36655-2018，发布日期：2018-09-17、实施日期：2019-01-01，所属行业分类电子学。
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