GB/T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验,适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。
半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检标准号为GB/T 4937.3-2012，发布日期：2012-11-05、实施日期：2013-02-15，所属行业分类电子学。
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GB/T 4937.3-2012
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*本标准 GB/T 4937.3-2012 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。