本标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能,及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法,也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。
表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告标准号为GB/T 25185-2010,发布日期:2010-09-26、实施日期:2011-08-01,所属行业分类化工技术。
本文网址:https://www.171zz.com/document/284139.html
本标准以最少量的资料描述了用X射线光电子能谱测量绝缘样品内能级结合能,及将在报告其分析结果时所采用的荷电控制和荷电校正方法,也给出了在结合能测量过程中对于荷电控制和荷电校正有用的方法资料。
表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告标准号为GB/T 25185-2010,发布日期:2010-09-26、实施日期:2011-08-01,所属行业分类化工技术。
本文网址:https://www.171zz.com/document/284139.html