本标准描述了硅中代位碳原子含量的红外吸收测试方法。
本标准适用于电阻率大于3Ω·cm的P型硅单晶片及电阻率大于1Ω·cm的n型硅单晶片中代位碳原子含量的测试（室温下测试范围：5X1015cm-3至硅中碳原子的最大固溶度；温度低于80K时测试范围：不小于5X1014cm-3）。
硅中代位碳含量的红外吸收测试方法标准号为GB/T 1558-2023，发布日期：2023-12-28、实施日期：2024-07-01，所属行业分类冶金。
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