本标准给出了采用XPS对基材上薄膜的分析报告所需的最少信息量要求的说明。这些分析涉及化学组成和均匀薄膜厚度的测量，以及采用变角XPS、XPS溅射深度剖析、峰形分析和可变光子能量XPS的方式对非均匀薄膜作为深度函数的化学组成的测量。
表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告标准号为GB/T 36401-2018，发布日期：2018-06-07、实施日期：2019-05-01，所属行业分类化工技术。
本文网址：https://www.171zz.com/document/265923.html