本标准规定了半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3SDRAM）功能验证和电参数测试的方法。
本标准适用于半导体集成电路领域中第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3SDRAM)功能验证和电参数测试。
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 （DDR3 SDRAM）测试方法标准号为GB/T 36474-2018，发布日期：2018-06-07、实施日期：2019-01-01，所属行业分类电子学。
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