本标准规定了倒装焊集成电路封装工艺中凸点共面性、凸点剪切力、芯片剪切拉脱力、焊点缺陷、底部填充缺陷等方面相关的物理试验方法。
本标准适用于陶瓷封装或塑料封装的倒装焊单片集成电路。
集成电路倒装焊试验方法标准号为GB/T 35005-2018,发布日期:2018-03-15、实施日期:2018-08-01,所属行业分类电子学。
本文网址:https://www.171zz.com/document/267090.html
本标准规定了倒装焊集成电路封装工艺中凸点共面性、凸点剪切力、芯片剪切拉脱力、焊点缺陷、底部填充缺陷等方面相关的物理试验方法。
本标准适用于陶瓷封装或塑料封装的倒装焊单片集成电路。
集成电路倒装焊试验方法标准号为GB/T 35005-2018,发布日期:2018-03-15、实施日期:2018-08-01,所属行业分类电子学。
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