本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关（以下称为器件）参数测试方法。
本标准适用于半导体集成电路模拟开关，也适用于多路转换器参数的测试。
半导体集成电路 模拟开关测试方法标准号为GB/T 14028-2018，发布日期：2018-03-15、实施日期：2018-08-01，所属行业分类电子学。
本文网址：https://www.171zz.com/document/266881.html
GB/T 14028-2018
下载需要10积分，会员免费下载。
*本标准 GB/T 14028-2018 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。