本标准描述了半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法。
本标准适用于测量电阻率范围为1×105Ω·cm~1×1012Ω·cm的半绝缘碳化硅单晶片。
半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法标准号为GB/T 42271-2022，发布日期：2022-12-30、实施日期：2023-04-01，所属行业分类冶金。
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GB/T 42271-2022
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*本标准 GB/T 42271-2022 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。