晶片表面微粒沾污测量和计数的方法标准号为YS/T 27-1992，发布日期：1992-03-09、实施日期：1993-01-01，所属行业分类。
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YS/T 27-1992
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*本标准 YS/T 27-1992 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。
晶片表面微粒沾污测量和计数的方法标准号为YS/T 27-1992，发布日期：1992-03-09、实施日期：1993-01-01，所属行业分类。
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