u3000u3000此标准规定了半导体单晶晶向X射线衍射定向和光图定向的方法。 u3000u3000此标准适用于测定半导体单晶材料大致平行于低指数原子面的表面取向。
半导体单晶晶向测定方法标准号为GB/T 1555-2009，发布日期：2009-10-30、实施日期：2010-06-01，所属行业分类电气工程。
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GB/T 1555-2009
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*本标准 GB/T 1555-2009 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。