本标准规定了碳化硅单晶位错密度的测试方法。
本标准适用于晶面偏离{0001}面、偏向{1120}方向0°~8°的碳化硅单晶位错密度的测试。
碳化硅单晶位错密度的测试方法标准号为GB/T 41765-2022，发布日期：2022-10-12、实施日期：2023-05-01，所属行业分类冶金。
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GB/T 41765-2022
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*本标准 GB/T 41765-2022 仅供参考，使用标准请以正式出版的标准版本为准。